HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100V2产品详细信息
HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100V2概述
SZ-100V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。
SZ-100V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。
HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100V2特点
★ 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数
★ 宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%
★ 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
★ 软件操作简单功能强大,一键测量
★ 双光路双角度粒径测量(90° 和173°)
★ 采用微量样品池
HORIBA纳米颗粒分析仪SZ-100V2技术参数
型号 | SZ-100V2 |
粒径测量原理 | 动态光散射法(光子相关光谱法) |
粒径测定范围 | 0.3nm ~10μm |
粒径测量精度 | ±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm) |
Zeta 电位测量原理 | 激光多普勒电泳法 |
Zeta 电位测量范围 | -500 mV ~ +500 mV |
分子量测量原理 | Debye plot |
分子量测量范围 | 1000 ~ 2×107 Da |
测量角度 | 90° 和173°(可自动或手动选择) |
样品量 | 12μL ~ 1000μL |
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