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    其他类型试验箱           |          HALT/HASS试验箱

    机械压力测试
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    万能试验机           |                 碰撞试验台
    冲击试验机           |                 压力试验机
    拉力试验机
    扭转试验机
    疲劳试验机
    跌落试验机

  • 测量/计量仪器

    表面测量仪器
    ———————————————————————

    台阶仪                 |                     红外热成像仪
    轮廓仪                 |                     光学表面分析
    圆度仪                 |                     其他表面测试仪
    粗糙度仪

    综合测量仪器
    ———————————————————————

    影像测量仪                   |                 其他长度测量
    线宽测量仪                   |                 天平衡器测量
    平面度测量仪
    三坐标测量仪

  • 光学实验仪器

    电子显微镜
    ———————————————————————

    扫描电镜(SEM)
    透射电镜(TEM)
    原子力显微镜(SPM)
    其他电子显微镜/部件

    光学显微镜
    ———————————————————————

    金相显微镜                 |                      偏光显微镜
    比较显微镜                 |                      数码显微镜
    荧光显微镜                 |                      生物显微镜
    立体/体式显微镜         |                      激光共聚焦显微镜

  • 物理测试仪器

    表界面物性测试
    —————————————————————————

    高压吸附仪                |             接触角测量仪
    表面张力仪                |             比表面及孔隙分析仪
    化学吸附仪

    粒度分析仪器
    ———————————————————————

    激光粒度仪           |             Zeta电位仪
    颗粒计数器           |             激光光散射仪
    沉降粒度仪           |             其它粒度分析仪

    热分析仪器
    ———————————————————————

    热重分析仪艾艾          |             导热仪
    同步热分析仪艾          |             量热仪
    热机械分析仪艾          |             热膨胀仪
    差示扫描量热仪          |             热分析联用仪
    其他热分析仪

    其他物性测试仪器
    ———————————————————————

    硬度计                   |                  X-ray检测仪
    密度计

  • 实验室常用设备

    制样/消解/粉碎
    ————————————————————————

    切割机                   |                    离子溅射仪
    磨抛机                   |                    电子束刻蚀
    镶嵌机                   |                    微波/电热消解仪
    熔样机                   |                    表面/组织处理仪
    其他制样/消解/粉碎设备

    混合/分散/制冷
    ———————————————————————

    搅拌器                   |                    冷冻干燥机
    分散机                   |                    冷水机
    匀浆机                   |                    其他混合/分散/制冷设备

    分离/萃取/合成
    ———————————————————————

    微波萃取仪艾                |                    离心机
    超临界萃取艾                |                    反应釜
    固相萃取仪艾                |                    化学合成仪
    超声波萃取艾                |                    微波合成仪
    其他萃取设备                |                    其他分离/合成设备

    其他实验室常用设备
    ———————————————————————

    干燥箱                           |                        纯化设备
    马弗炉                           |                        清洗/消毒设备
    除湿机                           |                        实验室应用配套

  • 分析测试仪器

    光谱/X射线仪器
    ———————————————————————

    光电直读光谱仪          |           近红外光谱仪
    分子荧光光谱仪          |           ICP等离子发射光谱仪
    激光拉曼光谱仪          |           能散型XRF/波散型XRF
    其他光谱分析仪          |           原子吸收光谱仪
    红外光谱仪艾艾          |           X射线仪器
    分光光度计

    其他分析仪器
    ———————————————————————

    电化学工作站           |              红外碳硫仪
    氧氮分析仪艾           |              其他元素分析仪

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    设备租赁(长租/短租)
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    直流电源租赁                |               网络分析仪租赁
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waynekerr

英国稳科测试夹具

¥2,000.00 – ¥30,000.00

频率范围:20Hz – 120MHz
操作温度:-25℃ – 125℃
典型配置需进行技术沟通,价格另行确认!
清除
  • 描述
  • 用户评论 (0)
描述
图片型 号说明
1J1001四转一测试夹具
频率范围:20Hz—120MHz
1J1002四转二测试夹具
频率范围:20Hz—120MHz
也可连接1J1022液体测试夹具测试液体介电常数
1EV1006轴向、径向或带状部件的远程测试夹具。配有四个BNC连接器的电缆终端。
订单零件号1EV1006
1J1022液体测试治具1J1022
-测试频率范围:20Hz~30MHz
-基本测试精度:0.05%(6500)
-最少测量样品不少于 3ml
-操作温度:-25℃~125℃
-校准补偿:开路 短路 高频补偿
1J1011 DIP测试治具
频率范围:20Hz—120MHz
1J1012 & 1J1024二线式SMD测试治具
1J1012(弹片型)/1J1024(探针型)
频率范围:20Hz~ 120MHz
1J1015DIP高电流测试治具(125A 3MHz)
具备DIP 高电流元件快速校验, 归零与精确测试功能. 可连接WK3265(最多五台, 125Amp)跟WK3260.
可进行高电流连续测试一小时以上, 耐高温到摄氏200度
装载安全开关及下盖式的治具盒. 操作人员可免於接触’加上高电流的待测元件’
BNC接线, 防止高频干扰, 测试线不发热. 可取得测试的极高稳定度
1J101540~125A DIP四线式高电流测试治具(3MHz)
1J1032二线式SMD底部电极测试治具1J1032/四线式SMD底部电极测试治具1J10324
频率范围:20Hz—120MHz
1J101640~125A SMD四线式高电流测试治具(3MHz)
1J1020介电及薄膜测试治具
1J1020测试治具配合WK6500B系列精密阻抗分析仪或者在WK6500P高频LCR表上使用,最高频率可达40MHz。
夹具设计用于夹持平面圆盘状材料,材料直径不小于38mm,厚度不大于15mm。
1J1020夹具的两端电极之间的间距是可调整的,并通过千分尺测量。
频率范围:20Hz~40MHz
1J1023四线转二线高频转接头
工作频率:20Hz~120MHz
使用机种:WK4100系列、WK6500系列
此接头可直接连接1EVA1905A或其它屏障良好的测试线,达到两公尺以上的较远距离量测。此接头连接其他的测试线或接头时,在最接近待测物的测试点,需使用Wayne Kerr原厂的高频校正元件组作开路、短路及高频校正,以取得该仪器所拥有的基本精确度。
1J102520Hz~120MHz探针式测试治具
1EV1505四线式测试夹具(3MHz)
600 mm延长电缆,在仪表端用四个BNC连接器端接,在部件端用四个单独的鳄鱼夹端接。
订购零件号1EV1505
1EV1905A两线式探针型高频测试线(50MHz)
工作频率:20Hz~30MHz
使用机种:WK4100系列、WK6500系列
此测试线需连接1J1023使用。针对此频宽之内的任何包装形式的电子零件,特别是形状特殊的元件,可做直接的接触量测。使用前需使用Wayne Kerr原厂的高频校正元件组作开路、短路及高频校正,以取得该仪器所拥有的基本精确度
1EVA40100测试夹具(尖型 3MHz)
600 mm延长电缆,在仪器端用四个BNC连接器端接,在部件端用一对细爪Kelvin夹子端接。
订购零件号1EVA40100。
1EVA40120SMD镊子式测试夹具(3MHz)
用于接触无铅设备的芯片组件镊子。电缆端接有BNC连接器。
订购零件号1EVA40120
1EVA4012520Hz~120MHz SMD 镊子
20Hz~120MHz SMD镊子式测试夹具
1EVA40150开尔文导线(细颚)
测试夹具(尖型)
1EVA40180测试夹具(大型 3MHz)
600毫米延长电缆,在仪表端用四个BNC连接器端接,在部件端用一对大爪开尔文夹子端接。
订购零件号1EVA40180
1J1100保护单元(3MHz)
高精度元件测量仪器可能会被带电电容器损坏,导致昂贵的维修和不可接受的停机时间。
1100保护装置设计用于6430B或6440B组件分析仪,提供高达25焦耳的能量保护。
如果过载,保险丝熔断,测试设备未受损坏。
订购零件号1J1100
1J1031SMD高频高电流测试治具
与1026&1027配合使用
1J1026&1J1027DIP高频高电流测试治具
1J1026 – 20A 120MHz
1J1027 – 40A 120MHz
1J1016DIP高电流测试治具(300A 1MHz)

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